Pregunta 6b

PAU 2024 · Juny · Sèrie 5

Pregunta oberta

P6) El microscopi de forces atòmiques (AFM, de l'anglès atomic force microscope) és un instrument que permet crear imatges de la topografia d'una superfície amb una resolució de l'ordre del nanòmetre. Funciona mitjançant una punta afilada que se situa a l'extrem d'una palanca flexible (com la que podem observar a la fotografia de l'esquerra) i que oscil·la verticalment sobre la superfície, mentre es desplaça lateralment per ella. El gràfic de la dreta mostra l'oscil·lació vertical de la punta d'un AFM.
[Imatge: Fotografia d'una punta d'AFM i gràfic de l'oscil·lació vertical y (nm) en funció del temps t (µs). El gràfic mostra una oscil·lació harmònica amb amplitud 100 nm i període π µs, començant en un màxim a t=0].
Font: ICMAB (CSIC) [en línia]. https://icmab.es/next-gen-nanotechnology-changing-conductivity-with-an-atomic-force-microscope.

b) Podem considerar el moviment de la punta sobre la palanca com el d'una massa que es mou sota l'acció d'una molla. Si la constant elàstica de la molla és 8,00 N/m, calculeu el valor de la massa de la punta. Al cap d'un temps de fer servir aquesta punta s'observa que el període ha augmentat un 22 % i la constant elàstica no ha canviat. Què ha passat, ha perdut o ha guanyat massa? Justifiqueu la resposta.

1,25 punts

Font oficial: examen en PDF (Generalitat de Catalunya) · descarregat el 8 de setembre de 2026.

Com funciona Repàs PAU

Tria l’assignatura

Escull com practicar

Resol i comprova

Consolida el progrés

Pregunta 6b